Séminaire : Moyens et méthodes de caractérisation de paramètres S

Location : IMT Atlantique C02-113

Intervenant : D. Bourreau, PIM, IMT-Atlantique

Sommaire :

• Architecture d'un ARV et des extensions millimétriques
• Termes d'erreurs
• Méthodes de calibrage (SOLT, TRL, ...)
• Connecteurs, sous-pointes et guides
• Application au banc en espace libre
• Gestion des erreurs et de l’affichage
• Caractérisation de matériaux